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QN8500 膜厚計

  • 更新日期:2024-10-28

只需調(diào)零,無需校準
測量精度高
一體分體通用
可配多種探頭
中英文菜單操作
智能化
帶存儲,并可連計算機對數(shù)據(jù)進行處理分析
可連接薄鍍層探頭,對極薄的鍍層厚度精確測量,誤差小于±3um

可選探頭:
Fe鐵基探頭:0-2000um 0-5000um
Nfe非鐵基探頭:0-2000um 0-5000um
NFe/Fe兩用探頭:0-2000um 0-5000um
無線傳輸探頭
薄鍍層探頭

 

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